书目详细信息
： X射线衍射分析技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-05778-2:CNY39.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | X射线衍射分析技术/.晋勇，孙小松，薛屺编著 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2008.7 |
| 载体形态项： | 302页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。 本书可作为大学材料与工程科学专业本科生、研究生教学用书,也可作为相关专业科技人员的参考书。 |
| 题名主题： | X射线衍射分析 |
| 中图分类： | O657.39 |
| 个人名称等同： | 晋勇 编著 |
| 个人名称等同： | 孙小松 编著 |
| 个人名称等同： | 薛屺 编著 |
| 记录来源： | CN NSMC/108 20081224 |